Testovací metody pro antistatické rukavice

Nov 02, 2026 Zanechat vzkaz

Testovací metody pro antistatické rukavice
Antistatické rukavice se používají v čistých prostorách, aby se zabránilo poškození produktů statickou elektřinou generovanou lidským tělem. Pokud jsou antistatické vlastnosti rukavic, které nosíte, ohroženy – bez vašeho vědomí – může to vést ke značným ztrátám. Proto je zásadní porozumět zkušebním metodám a normám pro antistatické rukavice. Tento proces zahrnuje různá zařízení, která zde budou popsána. Používají se dva typy nastavení megohmetru (zkoušečka izolačního odporu): 100V a 10V (±5%). Nastavení 100 V se používá pro měření větší nebo rovné 1 × 10⁶ ohmů, zatímco nastavení 10 V se používá pro měření < 1 × 10⁶ ohmů. Dále je vyžadován antistatický náramek, kovová destička a elektrostatický voltmetr.

Testování musí být provedeno podle specifického postupu, a to takto:
* Podmínky prostředí pro testování: Teplota: 23 ± 3 stupně; Relativní vlhkost: 40 %–60 % ± 5 %.

esd dotted gloves

ESD fabric gloves

esd gloves

* Ujistěte se, že testované zařízení a elektrody megaohmmetru jsou čisté. V případě potřeby je očistěte měkkým hadříkem nepouštějícím vlákna navlhčeným v 70% isopropylalkoholu.
* Při provádění počátečních inspekcí nebo rutinních kontrol musí být testováno alespoň šest vzorků výrobků.
* Chcete-li otestovat povrchový odpor rukavic, umístěte vzorek na izolační desku a poté umístěte elektrody megaohmmetru na povrch rukavice. Ujistěte se, že elektrody nepřesahují okraje vzorku.
* Jakmile jsou elektrody na místě, začněte test s nastavením 10V na megaohmmetru. Pokud je naměřená hodnota < 1,0 × 10⁷ ohmů, pokračujte v testu s tímto nastavením; pokud je hodnota > 1,0×10⁷ ohmů, přepněte na nastavení 100V. Počkejte, až se měření ustálí, a poté zaznamenejte hodnotu pro dokončení testu. * Stejný postup použijte k testování dalších vzorků. Norma pro povrchový odpor je: Větší nebo rovna 1,0 × 10⁵ ohmů až<1.0×10⁹ ohms.
U antistatických rukavic lze přesné údaje získat pouze striktním dodržováním předepsaných testovacích postupů. To je nezbytné pro lepší prevenci poškození elektronických produktů a čipů během pracovního procesu.